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Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴(kuò)展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進(jìn)而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。

硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。

FR-ΙntShpere-AIO 是一套用于精確測量全反射、漫反射及鏡面反射分量的整體解決方案。 該設(shè)備集成了穩(wěn)定的 VIS/NIR 光源、反射式積分球以及具有高光學(xué)分辨率的光譜儀。通過 FR-Monitor v4.0 軟件進(jìn)行控制，以計(jì)算和分析所有光學(xué)參數(shù)（如反射率、顏色等）。

FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用，例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區(qū)域薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率、透射率和吸光度